USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。是十分适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。

1. 消除背面反射光
   采用特殊光学系统，消除背面反射光。
   不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。

2. 可测定微小区域的反射率
   用物镜对焦于样本表面的微小光斑（?60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。

3. 测定时间短
   由于使用了Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、再现性很高的测定。

4. 支持XY色度图、L*a*b*测定
   可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色。

5. 可以测定高强度镀膜的膜厚
   采用干涉光分光法，可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚（单层膜）。