USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。是十分适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
消除背面反射光采用特殊光学系统，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小区域的反射率用物镜对焦于样本表面的微小光斑（?60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。
测定时间短由于使用了Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、再现性很高的测定。
支持XY色度图、L*a*b*测定可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色。
可以测定高强度镀膜的膜厚采用干涉光分光法，可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚（单层膜）。
测定波长380 nm～780 nm测定方法与参照样本的比较测定被检物N.A.0.12（使用10×物镜时）0.24（使用20×物镜时）* 与物镜的N.A.不同。被检物W.D.10.1 mm（使用10×物镜时）3.1 mm（使用20×物镜时）被检物的曲率半径-1R ～-∞、+1R～∞被检物的测定范围约?60 μm（使用10×物镜时）约?30 μm（使用20×物镜时）测定再现性（2σ）±0.1%（380 nm～410 nm测定时）±0.01%（410 ... [详细介绍]